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簡要描述：【無錫冠亞】半導(dǎo)體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備，?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。-115℃射流高低溫沖擊測試機(jī) 7-40 Chiller
產(chǎn)品型號：LTS-202廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-01-16訪 問 量：1383| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 10萬-50萬 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類 | 一體式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
主要產(chǎn)品包括半導(dǎo)體專?溫控設(shè)備、射流式?低溫沖擊測試機(jī)和半導(dǎo)體??藝廢?處理裝置等?設(shè)備，
?泛應(yīng)?于半導(dǎo)體、LED、LCD、太陽能光伏等領(lǐng)域。
半導(dǎo)體專溫控設(shè)備
射流式?低溫沖擊測試機(jī)
半導(dǎo)體專用溫控設(shè)備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風(fēng)控溫裝置
半導(dǎo)體?低溫測試設(shè)備
電?設(shè)備?溫低溫恒溫測試?yán)錈嵩?/span>
射流式高低溫沖擊測試機(jī)
快速溫變控溫卡盤
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內(nèi)循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進(jìn)出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴(kuò)展 | 通過增加電加熱器，擴(kuò)展-25℃～80℃ | ||||||
-115℃射流高低溫沖擊測試機(jī) 7-40 Chiller
-115℃射流高低溫沖擊測試機(jī) 7-40 Chiller
射流式高低溫沖擊測試機(jī)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。
是對產(chǎn)品電性能測試、失效分析、可靠性評估的儀器設(shè)備。
溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃，升降溫速率?常快速，150℃?-55℃＜10秒，zui??流量：30m3/h；
實(shí)時監(jiān)控被測IC真實(shí)溫度,實(shí)現(xiàn)閉環(huán)反饋，實(shí)時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控，程序化操作、?動操作、遠(yuǎn)程控制
檢查光模塊高低溫測試設(shè)備的安全裝置，包括超溫保護(hù)、過載保護(hù)、漏電保護(hù)等。確保安全裝置完好無損，工作正常。如有異常，應(yīng)及時維修或更換。
6、設(shè)備運(yùn)行測試
定期進(jìn)行光模塊高低溫測試設(shè)備運(yùn)行測試，以檢查設(shè)備的性能和可靠性。在測試過程中，應(yīng)逐步增加溫度和濕度條件，并觀察設(shè)備的反應(yīng)和讀數(shù)是否正常。如有異常，應(yīng)及時排查問題并修復(fù)。
7、記錄和維護(hù)記錄
對光模塊高低溫測試設(shè)備每次維護(hù)保養(yǎng)進(jìn)行記錄，包括檢查的項目、發(fā)現(xiàn)的問題、采取的措施等。保持記錄的完整性和準(zhǔn)確性，以便追蹤和管理設(shè)備的維護(hù)歷史。
總之，光模塊高低溫測試設(shè)備的維護(hù)保養(yǎng)是確保設(shè)備正常運(yùn)行和使用壽命的節(jié)，通過定期檢查、清潔、維修和記錄等方法，可以有效地提升設(shè)備的性能和可靠性，降低故障率，從而為半導(dǎo)體芯片的研發(fā)和生產(chǎn)提供可靠的測試保障。
